15. Deutsches Anwendertreffen "Analytische Glimmentladungs-Spektrometrie" 2011 in Dresden

Mittwoch, 23. Nov.
10:00     Begrüßung
Prof. Jürgen Eckert, Direktor des IKM am IFW Dresden
 
10:20 Untersuchungen gepulster Glimmentladung und Anwendung für die Analyse von Solarzellen
Varvara Efimova, Volker Hoffmann, IFW Dresden
 
10:40 Die mikrosekunden-gepulste Glimmentladung als Strahlungs- und Ionenquelle für analytische Glimmentladungen
Maxim Voronov, IFW Dresden
 
11:00 Von Bulk- zu Dünnschicht-Analysen - neue Erkenntnisse mit der μs-gepulsten GD-MS
Cornel Venzago, Thomas Hofmann und Petr Smid, AQura GmbH
 
11:20 Massive H-Standards zur Kalibration
Volker Hoffmann, IFW Dresden
 
11:40 Diskussion und Vorstellung der Poster
 
14:00 Einsatz der Glimmentladungsspektroskopie im Alltag einer Materialprüfanstalt
Gerd Teichert, Marcus Wilke, MFPA Weimar
 
14:30 Einsatz der Glimmlampenspektrometrie für die Betriebsanalytik an Beschichtungsanlagen
Thomas Brixius, Marcel Gosens, Juan Müller, Michael Stang, Nicole Weiher, ThyssenKrupp Steel Europe AG
 
15:00 GDOES zur Kleinbereichsanalyse an metallographischen Schliffen
Michael Köster, TAZ GmbH
 
15:30 Analyse von multinären PVD N-Schichten auf Magnesium-substraten mittels der Glimmentladungsspektroskopie
Holger Hoche, Stefan Groß, Heiko Daum, Kompetenzbereich Werkstoffanalytik, Technische Universität Darmstadt
 
Donnerstag, 24. Nov.
09:00     Neuentwicklungen der Firma Spectruma
Michael Analytis, Rüdiger Meihsner, Spectruma Analytik GmbH
 
09:30 Neues von LECO
Andre Klostermeier, LECO Instrumente GmbH
 
10:00 Spuren molekularer Gase in GD Plasmen - neue Entwicklungen
E.B.M. Steers, London Metropolitan University
 
10:30 Plasma Profiling MassSpectrometry (PPMS) zur Analyse von Element- und Isotopenverteilungen in Oberflächen und Schichten
Rainer Nehm, RN, HORIBA Scientific
 
11:00 Gegenwärtiger Stand des ELEMENT GD
Joachim Hinrichs, Lothar Rottmann, Thermo Fisher Scientific
 
11:30 Allgemeine Diskussion
 
12:30 Beratung der Anwender
 
14:00 Führung durch das GD-OES Labor des IFW Dresden
 
Poster
Surface characterization of thermally processed, stainless steels by GD-OES
G. Tschopp, Y. Wu, S. Kleiner, T. Nelis, M. Baak, J.-M. Rufer
 
Rapid analytical assistance for plasma deposition by GD-OES
E. Barisone, G. Girard, G. Tschopp, T. Nelis, L. Roske, Y. de Puydt, L. Dupuy, P. Raynaud