| Donnerstag, 26. September 2019 |
| Wissenschaftliche Vorträge im Rahmen des CANAS |
| 10:50 (1) | Recent developments in GD optical spectroscopy |
| Bengtson, A |
| 11:30 (2) | Fortschritte bei der Analyse leichter
Elemente mit der Glimmentladungs-Spektrometrie |
| Hoffmann, V. |
| 11:50 (3) | Bestimmung von Halogenen in Metallen mittels
spektrometrischer Verfahren |
| Richter, S. |
| 13:00-15:00 Anwendertreffen I |
| 13:00 | Begrüßung |
| 13:30 (4) | Tiefenprofilanalysen von metallischen
überzügen, dünnsten Schichten und Materialien mit seltenen Elementen unter
Anwendung von Röntgenfluoreszenz, Röntgenstreuung, Elektronenrückstreuung und
elektroneninduzierter Röntgenemission (Mikrobereichsanalytik) als Hilfsmittel
zur externen Standardisierung |
| Köster, M. |
| 13:50 (5) | Aging mechanism in Lithium ion batteries
revealed by GD-OES depth profiling |
| Richter, K. |
| 14:10 (6) | Glow Discharge Mass Spectrometry in Lithium
Ion Batteries: The Jack of All Trades for Analyzing Solid Battery Components? |
| Diehl, M. |
| 14:30 (7) | Oberflächeneffekte und erweiterte
Bor-Kalibration für GD-OES - Tiefenprofile in der siliziumbasierten
Photovoltaik |
| Geml, F. |
| 15:30-17:00 Anwendertreffen II |
| 15:30 (8) | Besprechung der
deutschen Anwender mit Informationen von der europäischen Arbeitsgruppe |
| 16:30 | Posterdiskussion |
| P1 | Surface Analysis of Pre-Lithiated Electrodes
by means of Glow Discharge-Sector Field-Mass Spectrometry (GD-SF-MS) |
| Helling, M., Diehl, M., Winter, M., Nowak, S. |
| P2 | Application of pulsed glow discharge
time-of-flight mass spectrometry for elemental analysis of optical materials |
| Gubal, A., Chuchina, V., Ganeev, A., Yakobson, V. |
| P3 | Study of processes in glow discharge optical
emission spectrometry in Ne and Ar plasma for the determination of light
elements with high ionization potential and excitation energy such as oxygen
and fluorine in conducting materials. |
| Chuchina, V., Hoffmann, V., Ganeev, A., Gubal, A. |
| 17:00 | Element GD Nutzertreffen |
| 19:00 | Dinner |
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| Freitag, 27. September 2019 |
| 09:00-10:15 Anwendertreffen III |
| 09:00 (9) | Gallium analysis using μs-pulsed fast flow glow discharge mass spectrometry |
| Hinrichs, J., (Thermo Fisher Scientific) |
| 09:15 (10) | Optimierung der Nachweisgrenzen für Stickstoff und Sauerstoff in niedriglegiertem Stahl |
| Meihsner, R., (Spectruma Analytik) |
| 09:30 (11) | Bulk-Messungen mit der GDOES: Neuerungen und analytische Vergleiche mit der Verbrennungsanalytik |
| Girrbach, M., (LECO Instrumente) |
| 09:45 (12) | Ermitteln von Strukturen und eingebetteten Schnittstellen mit der gepulsten HF-GDOES |
| Bleisteiner, B., (Horiba Jobin Yvon) |
| 10:00 (13) | Nu Astrum GD-MS: overview and applications |
| Disch, B., (Nu Instruments) |
| 10:40-12:30 Anwendertreffen IV |
| 10:40 (14) | GD-OES Untersuchungen an (Ti,Al)Nx-Hartstoffschichten mit Al/Ti-Gradienten |
| Zywitzki, O. |
| 11:00 (15) | Analyse von modifizierten Konversionsschichten auf galvanisch Zink mit der optischen Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES) |
| Teichert, G. |
| 11:20 (16) | Neueste Erfahrungen mit speziellen GDMS-Analysen |
| Hofmann, Th. |
| 11:40 (17) | Normkonforme Validierung einer Methode für die Tiefenprofilanalyse (DIN EN ISO 17025, IATF 16949) inklusive korrekter Bestimmung der Messunsicherheiten in der Praxis am Beispiel nitrierter Proben |
| Asam, Th. |
| 12:00 | Abschließende Diskussion und Verabschiedung |
| 13:00 | Mittagessen in der Mensa Freiberg |
| 14:00 | Führung im Institut für Analytische Chemie der TU Bergakademie Freiberg |